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  • SPA2-10CD日本h-repic半導體制造用視覺LED檢查燈
    SPA2-10CD日本h-repic半導體制造用視覺LED檢查燈

    日本h-repic半導體制造用視覺LED檢查燈SPA2-10CD 型號:SPA2-10CD / SPA2-10CW / SPA2-10SD / SPA2-10SW 使用行業(yè)領xian的4芯片LED 我們*的恒流調光方法 結構可實現(xiàn)jia照明

    時間:2024-09-07型號:SPA2-10CD
  • LED Ages日本NCC用于內置設備的異物檢查燈
    LED Ages日本NCC用于內置設備的異物檢查燈

    日本NCC用于內置設備的異物檢查燈LED Ages 它是一種可視化燈,可以照射更多的直射光,因為它使用了據(jù)說具有較高相對視覺靈敏度的綠光LED(峰值波長約為525 nm)和具有30度方向特性的槍式彈性LED。由于照射范圍廣,因此在膜接合工序,半成品的表面檢查等中,可以觀察到大約10μm的異物。

    時間:2024-09-07型號:LED Ages
  • 日本ncc超緊湊型紫外線檢查燈Artel S UV
    日本ncc超緊湊型紫外線檢查燈Artel S UV

    日本ncc超緊湊型紫外線檢查燈Artel S UV 清潔后的殘油通常是肉眼看不見的,并且會影響后續(xù)的涂層,粘合和組裝。生產現(xiàn)場使用的油通常包含熒光物質,這些物質是發(fā)光的來源,通過用UV Artel S輻照,產品中殘留的油會發(fā)光并且可以通過肉眼看到。它可以用作內部清潔場所質量改進的管理工具,而無需將剩余油含量的測量外包。

    時間:2024-09-07型號:
  • Quantum日本ncc便于攜帶的小型LED產品瑕疵檢查燈
    Quantum日本ncc便于攜帶的小型LED產品瑕疵檢查燈

    日本ncc便于攜帶的小型LED產品瑕疵檢查燈Quantum 在諸如噴漆,印刷,精密裝配和薄膜制造等場所,會發(fā)生許多由灰塵等粗顆粒引起的缺陷。然而,在正常情況下不能目視確認粗顆粒。因此,通過用產生直度和強光的“量子”照射產品和夾具的表面,很容易在視覺上檢查粗顆粒。

    時間:2024-09-07型號:Quantum
  • Triton日本ncc用于檢查設備的清潔度和灰塵粘附
    Triton日本ncc用于檢查設備的清潔度和灰塵粘附

    日本ncc用于檢查設備的清潔度和灰塵粘附Triton 在上漆,印刷,貼膜,精密裝配等過程中,z常見的缺陷是外觀缺陷。原因是工作現(xiàn)場浮起的灰塵以及附著在工作和設備上的灰塵。如果可以在視覺上預先觀察到,但可見顆粒的大小為90μm或更大,可以采取對策。由于在噴涂過程中出現(xiàn)問題的顆粒尺寸約為10μm,因此無法通過肉眼觀察到=無法采取任何對策。

    時間:2024-09-07型號:Triton
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