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產(chǎn)品型號:
所屬分類:光源
產(chǎn)品時間:2024-09-06
簡要描述:日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ太陽能光譜儀S-2440modelⅡ設(shè)計用于太陽或太陽模擬器光譜輻照度的測量。儀器的光譜響應(yīng)針對太陽光譜進(jìn)行了優(yōu)化,并且通過采用具有高靈敏度的檢測器、高效率的分光儀、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件,實現(xiàn)了測試的高度精que性。
日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ
摘要
太陽能光譜儀S-2440modelⅡ設(shè)計用于太陽或太陽模擬器光譜輻照度的測量。儀器的光譜響應(yīng)針對太陽光譜進(jìn)行了優(yōu)化,并且通過采用具有高靈敏度的檢測器、高效率的分光儀、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件,實現(xiàn)了測試的高度精que性。
特點(diǎn)
新設(shè)計的電子器件
為了降低溫度和噪聲導(dǎo)致的不穩(wěn)定,所有的電子回路進(jìn)行了新的設(shè)計,本產(chǎn)品不僅避免了發(fā)射的噪聲,而且抑制了回路中的噪聲。
※1. 與SOMA舊的型號的比較
針對太陽模擬器的測試進(jìn)行了優(yōu)化
儀器的光譜響應(yīng)進(jìn)行了調(diào)整,以保證對太陽模擬器的準(zhǔn)確測試。為了實現(xiàn)這一特點(diǎn),儀器在紫外和近紅外區(qū)域的噪音水平進(jìn)行了改善。
脈沖光源的同步測量
上一代產(chǎn)品只能在脈沖開始后對光譜進(jìn)行測量。本產(chǎn)品能夠在脈沖開始前對光譜進(jìn)行測試。這一功能稱為事件觸發(fā)模式。
事件觸發(fā)模式通過采用重新設(shè)計的回路和軟件來實現(xiàn)。在這一模式下,儀器對光譜進(jìn)行連續(xù)測試。因此,脈沖前的光譜可以回歸得到,并且也可以得到脈沖后的光譜。計時信號由嵌入反射型擴(kuò)散板的硅光電二極管產(chǎn)生。計時信號和光強(qiáng)水平可以在0.01~1sun范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整。
采用顯著余弦特征的反射型擴(kuò)散板
尺寸:H15×W60×D80/φ40mm
高持久耐用并且易于保持其特點(diǎn)。本產(chǎn)品具有強(qiáng)的反射和顯著地余弦特征。
注意:當(dāng)光纖和擴(kuò)散器更換時,需要對儀器進(jìn)行重新校準(zhǔn)。
光譜匹配評價標(biāo)準(zhǔn)
JIS C 8912-2011/IEC 60904-9(ED-2)-2007 (結(jié)晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器)
JIS C 8933-2011(非結(jié)晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器)
JIS C 8942-2009 (多結(jié)太陽能電池及組件的太陽模擬器)
ASTM(Direct AM1.5、Global AM1.5)-2009
所有標(biāo)準(zhǔn)的太陽模擬器的光譜匹配評價均可實現(xiàn)。
光譜匹配(A,B,C)可以在測試之后立即計算。
日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ
光譜輻照度的測試軟件
測試參數(shù)
光譜輻照度(μW/cm2/nm):測試數(shù)據(jù)以曲線圖的形式示于顯示器中,文本數(shù)據(jù)(間隔1nm)也可以得到。
光譜匹配度:數(shù)據(jù)列表中的任意光譜數(shù)據(jù)均可以進(jìn)行評價。所選取的數(shù)據(jù)的光譜匹配度可以立即示于顯示器中。測試模式
基本測試 主要用于連續(xù)光測試
重復(fù)測試 可固定時間間隔重復(fù)測試
事件引發(fā)模式 用于發(fā)射脈沖測試,引發(fā)脈沖前后的光譜均可得到。
標(biāo)準(zhǔn)測試 通過對比標(biāo)準(zhǔn)發(fā)光器的光譜輻照度對產(chǎn)品進(jìn)行校正。
事件引發(fā)模式
事件引發(fā)模式檢測器
可以觀察引發(fā)脈沖的波形
引發(fā)脈沖的光強(qiáng)可以從0.01~1sun范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整。調(diào)整可以通過拖動滑塊SW方便操作。
可以選擇引發(fā)脈沖前后光譜的數(shù)目
可以選擇引發(fā)脈沖之后延遲的時間
標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī)
附光纖反射型擴(kuò)散板(L=0.9m)
觸發(fā)器線纜(L=0.9m)
光譜輻照度測試軟件
USB線纜(L=2.0m)
交流電適配器(LTE24E-S2-3)
檢驗單
主要規(guī)格
型號 | S-2440 model Ⅱ/HIDAMARI mini |
波長 | 300~1100nm |
半波長 | 5nm |
曝光時間 | 1~1000毫秒 |
入射光學(xué)系統(tǒng) | 附光纖反射型擴(kuò)散板(L=0.9) PTFE φ40mm 光纖(石英,核心φ0.8mm) 注:附光纖反射型散射板無法與主機(jī)斷開 |
測試項目 | 分光輻射照度測定(μW/cm2/nm),光譜匹配度評價 光譜匹配度評價標(biāo)準(zhǔn): JIS C 8912-2011,JIS C 8933-2011, JIS C 8942-2009,IEC 60904-9(ED-2)-2007,ASTM(Direct AM1.5、Global AM1.5)-2009 |
測試模式 | 基本測試 重復(fù)測試 事件引發(fā)模式 標(biāo)準(zhǔn)測定 |
操作系統(tǒng) | Windows8/7/Vista(32位,64位) (個人計算機(jī)不包括在內(nèi)) |
交流/直流轉(zhuǎn)換器 | ADC 16位 |
通訊接口 | USB 2.0 |
數(shù)據(jù)格式 | CSV文本數(shù)據(jù)(數(shù)據(jù)以每1nm輸出) |
數(shù)據(jù)保存 | 高達(dá)1000個光譜數(shù)據(jù) |
溫度和濕度 | 10~35℃,相對濕度80%或更低,無凝結(jié) |
電源 | 直流電12V 2A |
功率損耗 | 交流電100~240V 50/60Hz (直流電適配器 LTE24E-S2-3) |
尺寸/重量 | 19(H)×210(W)×(D)/5kg |
選項 | 標(biāo)準(zhǔn)光源裝置,漫反射面固定裝置 |