HED-W5300D

全自動晶圓ESD測試儀

Wafer ESD 測試儀 HED-W5300D 與傳統(tǒng)產(chǎn)品 HED-W5100D 相比有了很大的發(fā)展，現(xiàn)在可以自動控制放置 Wafer 的平臺。
即使是 300mm 級的 Wafer 也可以通過簡單地將 Wafer 放在平臺上來輕松測量。
毫無疑問，工作效率將大大提高。
此外，除了常規(guī)產(chǎn)品外，還可以測試一般包裝產(chǎn)品。

HED-W5100D

全自動晶圓ESD測試儀

從 LED 到用于系統(tǒng) LSI 的大直徑晶圓，HBM 和 MM 都可以應(yīng)用。
施加ESD后，可以通過V/I測量來判斷破壞情況。
此外，可以使用與ESD測試密切相關(guān)的TLP測試設(shè)備進(jìn)行組合測試。
對于在ESD測試中出現(xiàn)問題的器件獲取保護(hù)電路的工作參數(shù)很有用。
它是符合日本和海外標(biāo)準(zhǔn)的高度可靠的設(shè)備。(符合JEITA/ESDA/JEDEC標(biāo)準(zhǔn))

HED-W5000M

高性能
手動晶圓ESD測試儀

您可以通過操作機(jī)械手輕松對齊 2 個引腳。
施加脈沖后，可以通過 Vf/Im 測量來判斷破壞情況。

HED-W5000M-SP0

低成本晶圓 ESD 測試儀

它以低成本提供高性能。
通過打開控制軟件，您可以構(gòu)建廣泛的應(yīng)用程序。

HED-W5000M-WFC

晶圓ESD測試儀

TLP測試設(shè)備在收集和分析內(nèi)置于集成電路中的保護(hù)電路的工作參數(shù)方面發(fā)揮了重要作用，但隨著半導(dǎo)體小型化的進(jìn)展，需要進(jìn)一步的保護(hù)電路來提高ESD抗性，需要開發(fā)速度。
HED-W5000M-WFC測試儀可以觀察實際施加到器件上的ESD波形，這對于收集、分析和加快保護(hù)電路參數(shù)的開發(fā)非常有用。